A.系統(tǒng)測(cè)試
B.集成測(cè)試
C.用戶驗(yàn)收測(cè)試
D.單元測(cè)試
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.硬件系統(tǒng)
B.源程序
C.軟件系統(tǒng)
D.文檔
A.分析故障，使用最少步驟重現(xiàn)缺陷
B.包含所有重現(xiàn)缺陷的必要步驟
C.盡量全面——將一次發(fā)現(xiàn)的所有缺陷放在一個(gè)報(bào)告中
D.方便閱讀、注意缺陷報(bào)告書(shū)寫(xiě)語(yǔ)氣
A.安全測(cè)試
B.兼容性測(cè)試
C.易用測(cè)試
D.安裝測(cè)試
A.單元測(cè)試
B.集成測(cè)試
C.系統(tǒng)測(cè)試
D.驗(yàn)收測(cè)試
A.壓力測(cè)試
B.負(fù)載測(cè)試
C.安全性測(cè)試
D.容量測(cè)試
最新試題
下面對(duì)于開(kāi)發(fā)過(guò)程描述正確的是（）
軟件缺陷的優(yōu)先級(jí)從P1-P4級(jí)下面對(duì)其描述正確的是（）
以并發(fā)用戶數(shù)為例，進(jìn)行負(fù)載測(cè)試參數(shù)輸入時(shí)，下面哪一個(gè)不是負(fù)載測(cè)試的加載方式？（）
模擬負(fù)載測(cè)試需要通過(guò)一些參數(shù)的設(shè)定來(lái)實(shí)現(xiàn)，常見(jiàn)參數(shù)包括“并發(fā)用戶數(shù)、思考時(shí)間、價(jià)值循環(huán)次數(shù)或持續(xù)時(shí)間、請(qǐng)求的數(shù)據(jù)量和加載的方式”。
敏捷開(kāi)發(fā)模型不適用于大型開(kāi)發(fā)項(xiàng)目。
測(cè)試優(yōu)先級(jí)中，用戶用的越多或?qū)I(yè)務(wù)影響越關(guān)鍵的測(cè)試項(xiàng)，其測(cè)試優(yōu)先級(jí)也越高。
下列測(cè)試方法中，對(duì)白盒測(cè)試方法中相應(yīng)的邏輯覆蓋法描述錯(cuò)誤的是（）
關(guān)于混合漸增式testing的論述錯(cuò)誤的是（）。
測(cè)試輸入是測(cè)試計(jì)劃制定的依據(jù)，但包括下面哪幾個(gè)內(nèi)容？（）
強(qiáng)調(diào)對(duì)評(píng)審對(duì)象要從頭到尾檢查一遍，容易發(fā)現(xiàn)表面問(wèn)題。說(shuō)的是以下哪一種評(píng)審方法？（）