紅外檢測(cè)技術(shù)是集光電成像、計(jì)算機(jī)技術(shù)、圖像處理于一身的綜合光電檢測(cè)技術(shù)。

幾何變換的光電檢測(cè)方法，是利用光束傳播的（）、成像等光學(xué)變換方法進(jìn)行的光電檢測(cè)和控制。

下列應(yīng)用屬于光度測(cè)量方法應(yīng)用的是（）。

對(duì)于相干檢測(cè)方法，（）干涉條紋的間距，有利于提高信號(hào)檢測(cè)的對(duì)比度和增大交變分量的幅值。

在設(shè)計(jì)和分析交變光信號(hào)檢測(cè)電路時(shí)，需解決下面（）的動(dòng)態(tài)計(jì)算問題。

CMOS的字母C的英文單詞是（）。

半導(dǎo)體激光器在激光外徑掃描儀中起到提供光源的作用。

在紅外數(shù)字計(jì)數(shù)器中，每當(dāng)物件通過紅外對(duì)射管中間一次，紅外光被遮擋一次，光電接收管的輸出電壓就發(fā)生一次變化。

視角分辨率的單位通常為（）。

軸向測(cè)距可以應(yīng)用于復(fù)雜工件的（）等方面。