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填空題

用電阻應變片測量構件的變形，影響電阻應變片電阻變化的因素有：應變片的（）和初始阻值、被測構件的（）、以及應變片沿構件的粘貼方向。（因為：△R=KεR，K為靈敏度，R為應變片初始阻值，ε被測構件的應變量）

答案：靈敏度；應變量

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答案：初始阻值

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答案：動態(tài)標定設備；階躍壓力信號