多項(xiàng)選擇題射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識(shí)別性主要決定于（）
A.對(duì)比度
B.顆粒度
C.不清晰度
D.以上都是
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1.單項(xiàng)選擇題對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷，一般采用（）檢測(cè)。
A.表面波法
B.縱波法
C.橫波法
D.聚焦法
2.多項(xiàng)選擇題在工作中超聲波檢測(cè)儀屏幕上可能會(huì)出現(xiàn)（）等信號(hào)波，需要仔細(xì)判別。
A.缺陷波
B.底波
C.始波
D.遲到波
E.三角反射波
3.單項(xiàng)選擇題在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)（r、R為簡體的內(nèi)、外徑），斜探頭（β為折射角）的臨界角應(yīng)滿足（）
A.sinβ≤r/R
B.sinβ≥r/R
C.tanβ≤r/R
D.tanβ≥r/R
4.單項(xiàng)選擇題探頭的分辨力（）
A.與探頭晶片直徑成正比
B.與頻帶寬度成正比
C.與脈沖重復(fù)頻率成正比
D.以上都對(duì)
5.單項(xiàng)選擇題對(duì)軸類鋼制鍛件，用2.5P14的直探頭，在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí)，該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于（）
A.33.4mm
B.62.3mm
C.76.8mm
D.以上都不是
最新試題
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）
題型：單項(xiàng)選擇題
下列對(duì)耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述，不正確的一項(xiàng)是（）
題型：單項(xiàng)選擇題
原子是元素的具體存在，是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。
題型：判斷題
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是（）
題型：單項(xiàng)選擇題
某超聲波探頭，壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm，則該探頭工作頻率為（）
題型：單項(xiàng)選擇題
使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是（）
題型：單項(xiàng)選擇題
在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)（r、R為簡體的內(nèi)、外徑），斜探頭（β為折射角）的臨界角應(yīng)滿足（）
題型：單項(xiàng)選擇題
射線照片上一個(gè)細(xì)節(jié)的影像是否能被眼睛識(shí)別出來，最主要的是決定于（）
題型：單項(xiàng)選擇題
若評(píng)片燈亮度增為原來的兩倍，則底片透光度（It/I0）變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>
題型：單項(xiàng)選擇題
通常所謂20KV的X射線是指（）
題型：單項(xiàng)選擇題