利用電子探針的波譜儀，一個(gè)分光晶體能夠覆蓋的波長(zhǎng)范圍有限的，因此一個(gè)分光晶體只能檢測(cè)一定原子序數(shù)范圍的元素。

在電子探針面分析中，根據(jù)圖像上亮點(diǎn)的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。

紅外光分為（）。

簡(jiǎn)單立方結(jié)構(gòu)材料發(fā)生衍射時(shí)，可以產(chǎn)生衍射的晶面為（）。

電子探針和X射線(xiàn)衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。

孔徑半角越小，衍射效應(yīng)所決定的電磁透鏡的分辨率越高。

電子探針的能譜儀和波譜儀比較，波譜儀（）。

晶體的X射線(xiàn)衍射方向反映了晶胞的（）。