差熱分析中，若試樣沒(méi)有熱效應(yīng)時(shí)，記錄儀所記錄的ΔT曲線(xiàn)，為水平直線(xiàn)，稱(chēng)為（）。

在電子探針中，測(cè)定X射線(xiàn)特征能量的譜儀為能量分散譜儀，簡(jiǎn)寫(xiě)為（）。

根據(jù)衍襯運(yùn)動(dòng)學(xué)原理，理想晶體衍射強(qiáng)度隨（）而變化。

掃描電鏡的背散射電子像中，圖像上亮區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)（）暗區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)。

孔徑半角越小，衍射效應(yīng)所決定的電磁透鏡的分辨率越高。

電子探針和X射線(xiàn)衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

關(guān)于X射線(xiàn)衍射儀的測(cè)量動(dòng)作，說(shuō)法正確的是（）。

熱分析技術(shù)中，試樣用量越多，熱效應(yīng)大，內(nèi)部傳熱慢，溫度梯度大，導(dǎo)致峰形擴(kuò)大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。

掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。

電子探針的能譜儀和波譜儀比較，波譜儀（）。