A. 增加
B. 減少
C. 不變
D. 與頻率無(wú)關(guān)
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A. 近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度與波源面積及波長(zhǎng)成正比
B. 近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度與波源面積及波長(zhǎng)成反比
C. 近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度與波源面積成正比,與波長(zhǎng)成反比
D. 近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度與頻率成正比,與波源面積成反比
A. N
B. 2\N
C. 3\N
D. 4\N
A. 波的繞射
B. 波的干涉
C. 波的衰減
D. 波的傳播
A.散射衰減
B.擴(kuò)散衰減
C.吸收衰減
D.材質(zhì)衰減
A.有機(jī)玻璃楔塊中
B.從晶片中
C.有機(jī)玻璃與耦合界面上
D.耦合層與鋼板界面上
最新試題
用2.5P20Z直探頭檢測(cè)厚400mm的鋼鍛件(CL=5900m/s ) ,檢測(cè)靈敏度校準(zhǔn)(400/Ф2)后進(jìn)行檢測(cè),發(fā)現(xiàn)在250mm處有一缺陷,缺陷波幅比基準(zhǔn)波幅高30dB,求此缺陷當(dāng)量?
用入射角a = 500的斜探頭檢測(cè)板厚T = 22mm的鋼焊縫,已知探頭楔塊CL= 2730m/s ,鋼中 Cs= 3230m/s ,儀器按水平1:1調(diào)節(jié)掃描速度,檢測(cè)時(shí)在水平刻度τf = 60處發(fā)現(xiàn)一缺陷,求此缺陷的位置。
用單斜探頭直接接觸法檢測(cè)φ400×48mm無(wú)縫鋼管,求能夠檢測(cè)到管內(nèi)壁探頭的最大K值?
用2.5P20Z探頭檢測(cè)400mm的工件, CL= 5900m/s , 如何利用150mm處Ф4平底孔調(diào)節(jié)400/Ф2靈敏度?
用5P10×12K2.5探頭,檢測(cè)板厚T = 20 mm 的鋼對(duì)接焊接接頭,掃描時(shí)基線按水平1:1調(diào)節(jié),檢測(cè)時(shí),水平刻度40和70mm處各發(fā)現(xiàn)缺陷波一個(gè),試分別求這兩個(gè)缺陷的深度?
用斜探頭檢測(cè)板厚T = 20mm ,上、下焊縫寬度為30mm的對(duì)接接頭,探頭前沿長(zhǎng)度為 20mm ,為保證聲束能掃查到整個(gè)焊接接頭截面,試確定用一、二次波檢測(cè)時(shí)探頭的K值?
用2.5P14Z探頭檢測(cè)鍛件,利用工件100mm大平底,如何校準(zhǔn)同工件,厚度180m處 的檢測(cè)靈敏度?
用2.5P14Z探頭檢測(cè)某鍛件,發(fā)現(xiàn)在50mm深處有一缺陷引起的底波降低量為18dB,另一處密集區(qū)缺陷面積為 100cm2,檢測(cè)總面積為0.5米×0.5米,同時(shí)發(fā)現(xiàn)一單個(gè)缺陷,當(dāng)量為Φ4+10dB,試根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)評(píng)定此鍛件等級(jí)。
用2.5P20Z探頭檢測(cè)厚400mm的鋼鍛件,鋼中CL=5900m/s , 衰減系數(shù)α2= 0.01dB/mm , (1)如用試塊(衰減可忽略)上的深200mm ,Ф4mm的平底孔校準(zhǔn)400mm處檢測(cè)靈敏度(400/Ф2),兩者的波高差為多少? (2)如果用厚度為200mm的試塊(鍛件與試塊衰減系數(shù)相同,耦合差為5dB)底波調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度(400/Ф2),兩者反射波高差為多少?
模擬式超聲波探傷儀用K1.0斜探頭,對(duì)準(zhǔn)CSK-ⅠA試塊R50和R100圓弧,顯示屏上R50和R100圓弧回波分別對(duì)準(zhǔn)刻度35.4和70.8 。求按橫波深度調(diào)節(jié)其掃描速度為多少?