A. 晶片
B. 阻尼塊
C. 保護(hù)膜
D. 隔聲層
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A. 接觸式探頭和液浸探頭
B. 縱波探頭和橫波探頭
C. 聚焦探頭和非聚焦探頭
D. 單晶探頭和雙晶探頭
A. 機(jī)電耦合系數(shù)K
B. 介電常數(shù)ε
C. 壓電電壓常數(shù)g33
D. 壓電應(yīng)變常數(shù)d33
A.控制和接收信號處理和顯示采用數(shù)字化
B.頻帶寬
C.可記錄存貯信號
D.儀器有計(jì)算和距離波幅曲線自動生成
A. 深度粗調(diào)旋鈕
B. 頻率選擇旋鈕
C. 延遲旋鈕
D. 工作方式選擇旋鈕
A. 重復(fù)頻率旋鈕
B. 增益微調(diào)旋鈕
C. 衰減器旋鈕
D. 發(fā)射強(qiáng)度旋鈕
最新試題
用2.5P20Z直探頭檢驗(yàn)厚度380mm的鋼鍛件（CL＝5900 m/s），材質(zhì)衰減系數(shù)α＝0.01 dB/mm。檢測中在130mm深發(fā)現(xiàn)一缺陷，其波幅較底波低7dB，求此缺陷當(dāng)量大??？
用5P10×12K2.5探頭，檢測板厚T = 20 mm 的鋼對接焊接接頭，掃描時(shí)基線按水平1：1調(diào)節(jié)，檢測時(shí)，水平刻度40和70mm處各發(fā)現(xiàn)缺陷波一個(gè)，試分別求這兩個(gè)缺陷的深度？
用2.5P20Z探頭檢測厚400mm的鋼鍛件，鋼中CL=5900m/s ， 衰減系數(shù)α2= 0.01dB/mm ， （1）如用試塊（衰減可忽略）上的深200mm ，Ф4mm的平底孔校準(zhǔn)400mm處檢測靈敏度（400/Ф2），兩者的波高差為多少？ （2）如果用厚度為200mm的試塊（鍛件與試塊衰減系數(shù)相同，耦合差為5dB）底波調(diào)節(jié)檢測靈敏度（400/Ф2），兩者反射波高差為多少？
用K2.5斜探頭檢測T = 12mm 的鋼板對接接頭 ，儀器按水平1：1調(diào)節(jié)，在顯示屏上利用CSK-ⅢA試塊繪制Ф1×6面板曲線，這時(shí)衰減器讀數(shù)為38dB ， 試塊與工件耦合差為6dB 。
模擬式超聲波探傷儀用K2.3橫波斜探頭，用CSK-Ⅰ試塊R50和R100圓弧按水平1：1 進(jìn)行掃描速度校準(zhǔn)，求R50、R100圓弧面的回波應(yīng)分別對準(zhǔn)水平刻度值為多少？
檢測板厚T=20mm的鋼板對接焊接接頭，上焊縫寬34mm，下焊縫寬25mm，選用K2探頭，前沿距離L0=16mm，用一、二次波法能否掃查到整個(gè)焊縫截面？是否能滿足要求？
用2.5P14Z探頭檢測某鍛件，發(fā)現(xiàn)在50mm深處有一缺陷引起的底波降低量為18dB，另一處密集區(qū)缺陷面積為 100cm2，檢測總面積為0.5米×0.5米，同時(shí)發(fā)現(xiàn)一單個(gè)缺陷，當(dāng)量為Φ4+10dB，試根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)評定此鍛件等級。
用2.5MHz、Φ20mm直探頭探測厚為200mm的餅形鍛件，已知底波B1=80%，B2=35%，若不計(jì)底面反射損失，求該鍛件的材質(zhì)衰減系數(shù)為多少？
用2.5P20Z探頭從外圓周面檢測外徑D=1000mm ，內(nèi)孔d = 600mm的鍛件，CL=5900m/s 。如何利用內(nèi)孔回波校準(zhǔn)200/Ф2靈敏度？
超聲檢測板厚T = 42mm的鋼板對接焊接接頭,在190mm長度范圍內(nèi)發(fā)現(xiàn)三處缺陷: 試根據(jù)JB/T4730.3－2005超聲檢測標(biāo)準(zhǔn)評定此焊接接頭的級別。