A.缺陷的當(dāng)量比較
B.AVG曲線面板的使用
C.缺陷的定位
D.以上都對
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A. 缺陷性質(zhì)判斷
B. 缺陷大小判斷
C. 缺陷的定位
D. 以上都是
A. 直探頭的的遠(yuǎn)場分辨力
B. 斜探頭的K值
C. 斜探頭的入射點
D. 斜探頭的聲束偏斜角
A. CSⅠ 、 CBⅠ
B. CSK-ⅢA 、CSK-ⅠA
C. CSⅢ 、CSK-ⅠA
D. RB-Ⅰ 、CSⅡ
A.工作頻率
B.晶片尺寸
C.探測深度
D.近場長度
A. 探頭的工作頻率為2MHz
B. 探頭的K值為2
C. 探頭的種類為2
D. 以上都不是
最新試題
用K2探頭檢測板厚分別為30mm 、65mm的鋼板對接焊縫,試問按照J(rèn)B/T4730.3-2005《承壓設(shè)備無損檢測》 B級標(biāo)準(zhǔn)焊縫兩側(cè)的修磨寬度各為多少?
用入射角a = 500的斜探頭檢測板厚T = 22mm的鋼焊縫,已知探頭楔塊CL= 2730m/s ,鋼中 Cs= 3230m/s ,儀器按水平1:1調(diào)節(jié)掃描速度,檢測時在水平刻度τf = 60處發(fā)現(xiàn)一缺陷,求此缺陷的位置。
用單斜探頭直接接觸法檢測φ400×48mm無縫鋼管,求能夠檢測到管內(nèi)壁探頭的最大K值?
用K2斜探頭檢測T = 28mm 的鋼板對接接頭 ,儀器按深度1:1調(diào)節(jié),在顯示屏上利用CSK-ⅢA試塊繪制Ф1×6面板曲線,這時衰減器讀數(shù)為34dB , 試塊與工件耦合差為5dB ,(1) 如何調(diào)節(jié)評定線Ф1×6-9dB靈敏度?(2) 檢測中在 =50處發(fā)現(xiàn)一缺陷波,其波高達(dá)面板曲線時, 衰減器讀數(shù)為28dB,求該缺陷的當(dāng)量和所在區(qū)域?(按照J(rèn)B/T4730.3-2005《承壓設(shè)備無損檢測》標(biāo)準(zhǔn))
在厚度T=200mm的試塊上校準(zhǔn)縱波掃描速度,若B2對準(zhǔn)50 , B4對準(zhǔn)100 。計算這時的掃描速度為多少?此時B1、B3分別對準(zhǔn)的水平刻度值為多少?
用K1探頭探測外徑為600mm焊縫筒體,計算能探測的壁厚最大厚度是多少?
檢測板厚T = 24mm 的鋼板對接焊接接頭,上焊縫寬34mm , 下焊縫寬26mm ,選用K2 探頭,前沿距離l0 = 16mm ,用一、二次波能掃查到整個焊縫截面?
用2.5P20Z探頭檢測厚400mm的鋼鍛件,鋼中CL=5900m/s , 如何用試塊上的深150mm ,Ф4mm的平底孔校準(zhǔn)400mm處的檢測靈敏度(400/Ф2)?
用2.5P20Z探頭檢測400mm的工件, CL= 5900m/s , 如何利用150mm處Ф4平底孔調(diào)節(jié)400/Ф2靈敏度?
用2.5P20Z探頭檢測厚400mm的鋼鍛件,鋼中CL=5900m/s , 衰減系數(shù)α2= 0.01dB/mm , (1)如用試塊(衰減可忽略)上的深200mm ,Ф4mm的平底孔校準(zhǔn)400mm處檢測靈敏度(400/Ф2),兩者的波高差為多少? (2)如果用厚度為200mm的試塊(鍛件與試塊衰減系數(shù)相同,耦合差為5dB)底波調(diào)節(jié)檢測靈敏度(400/Ф2),兩者反射波高差為多少?