A. 被檢工件厚度太大
B. 工件底面與檢測(cè)面不平行
C. 耦合劑有較大聲能損耗
D. 工件與試塊材質(zhì)、表面光潔度有差異
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A. 2dB
B. 4dB
C. 用實(shí)驗(yàn)方法測(cè)定的補(bǔ)償dB值
D. 任意規(guī)定補(bǔ)償?shù)膁B值
A.使用高聲阻抗耦合劑
B.使用軟保護(hù)膜探頭
C.減少探頭耦合面尺寸
D.使用高頻率探頭
A. 平面最好，凸曲面居中，凹曲面效果最差
B. 凹曲面最好，平面居中，凸曲面效果最差
C. 凸曲面最好，凹曲面居中，平面效某最差
D. 粗糙表面比平滑表面更容易實(shí)現(xiàn)耦合
A.聲阻抗小且粘度大的耦合劑
B.聲阻抗小且粘度小的耦合劑
C.聲阻抗大且粘度大的耦合劑
D.聲阻抗適中黏度適中的耦合劑
A.λ/4的奇數(shù)倍
B.λ/2整數(shù)倍
C.小于λ/4且很薄
D.以上B和C
最新試題
用K2斜探頭檢測(cè)T = 28mm 的鋼板對(duì)接接頭 ，儀器按深度1：1調(diào)節(jié)，在顯示屏上利用CSK-ⅢA試塊繪制Ф1×6面板曲線，這時(shí)衰減器讀數(shù)為34dB ， 試塊與工件耦合差為5dB ，（1） 如何調(diào)節(jié)評(píng)定線Ф1×6－9dB靈敏度？（2） 檢測(cè)中在 =50處發(fā)現(xiàn)一缺陷波，其波高達(dá)面板曲線時(shí)， 衰減器讀數(shù)為28dB，求該缺陷的當(dāng)量和所在區(qū)域？（按照J(rèn)B/T4730.3-2005《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)》標(biāo)準(zhǔn)）
用2.5P20Z直探頭檢測(cè)厚350mm的鋼鍛件(CL=5900m/s ) ,如何用工件底波校準(zhǔn)檢測(cè)靈敏度（350/ф2）？
用K2.5斜探頭檢測(cè)T = 12mm 的鋼板對(duì)接接頭 ，儀器按水平1：1調(diào)節(jié)，在顯示屏上利用CSK-ⅢA試塊繪制Ф1×6面板曲線，這時(shí)衰減器讀數(shù)為38dB ， 試塊與工件耦合差為6dB 。
用K2探頭檢測(cè)板厚分別為30mm 、65mm的鋼板對(duì)接焊縫，試問(wèn)按照J(rèn)B/T4730.3-2005《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)》 B級(jí)標(biāo)準(zhǔn)焊縫兩側(cè)的修磨寬度各為多少？
用2.5P20Z探頭檢測(cè)厚400mm的鋼鍛件，鋼中CL=5900m/s ， 如何用試塊上的深150mm ，Ф4mm的平底孔校準(zhǔn)400mm處的檢測(cè)靈敏度（400/Ф2）？
用2.5P20Z探頭檢測(cè)400mm的工件, CL= 5900m/s , 如何利用150mm處Ф4平底孔調(diào)節(jié)400/Ф2靈敏度？
用2.5P20Z直探頭檢測(cè)厚500mm的工件，CL=5900m/s ， 檢測(cè)中在200mm處發(fā)現(xiàn)一缺陷， 其波高比底波低12dB ， 求此缺陷的當(dāng)量大??？
用單斜探頭直接接觸法檢測(cè)φ400×48mm無(wú)縫鋼管，求能夠檢測(cè)到管內(nèi)壁探頭的最大K值？
在厚度T=200mm的試塊上校準(zhǔn)縱波掃描速度，若B2對(duì)準(zhǔn)50 ， B4對(duì)準(zhǔn)100 。計(jì)算這時(shí)的掃描速度為多少？此時(shí)B1、B3分別對(duì)準(zhǔn)的水平刻度值為多少？
模擬式超聲波探傷儀用K1.0斜探頭，對(duì)準(zhǔn)CSK-ⅠA試塊R50和R100圓弧，顯示屏上R50和R100圓弧回波分別對(duì)準(zhǔn)刻度35.4和70.8 。求按橫波深度調(diào)節(jié)其掃描速度為多少？