A.小于實(shí)際尺寸
B.接近聲束寬度
C.稍大于實(shí)際尺寸
D.等于晶片尺寸
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A.缺陷反射面大小
B.缺陷性質(zhì)
C.缺陷取向
D.以上全部
A. K 值是不穩(wěn)定的數(shù)據(jù)
B. K 值隨電壓的變化而變化
C. K 值常因磨損而發(fā)生變化
D.以上都對(duì)
A.探頭磨損會(huì)使入射點(diǎn)發(fā)生變化
B. 探頭磨損可能導(dǎo)致探頭K值的增大或減小
C. 探頭磨損可能導(dǎo)致儀器的水平線性的變化
D. 探頭磨損可能導(dǎo)致掃描速度的變化
A.儀器和探頭
B.操作人員的影響
C.工件的影響
D.耦合劑的影響
A. 前后、左右
B. 轉(zhuǎn)角
C. 環(huán)繞
D. 以上都是
最新試題
檢測(cè)板厚T = 24mm 的鋼板對(duì)接焊接接頭，上焊縫寬34mm ， 下焊縫寬26mm ，選用K2 探頭，前沿距離l0 = 16mm ，用一、二次波能掃查到整個(gè)焊縫截面？
超聲檢測(cè)板厚T = 42mm的鋼板對(duì)接焊接接頭,在190mm長(zhǎng)度范圍內(nèi)發(fā)現(xiàn)三處缺陷: 試根據(jù)JB/T4730.3－2005超聲檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)評(píng)定此焊接接頭的級(jí)別。
用2.5P14Z探頭檢測(cè)某鍛件，發(fā)現(xiàn)在50mm深處有一缺陷引起的底波降低量為18dB，另一處密集區(qū)缺陷面積為 100cm2，檢測(cè)總面積為0.5米×0.5米，同時(shí)發(fā)現(xiàn)一單個(gè)缺陷，當(dāng)量為Φ4+10dB，試根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)評(píng)定此鍛件等級(jí)。
用2.5P14Z探頭探測(cè)某鍛件，發(fā)現(xiàn)在100mm深處有一個(gè)Φ6當(dāng)量平底孔缺陷，根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)評(píng)幾級(jí)？
用入射角a = 500的斜探頭檢測(cè)板厚T = 22mm的鋼焊縫，已知探頭楔塊CL= 2730m/s ，鋼中 Cs= 3230m/s ，儀器按水平1：1調(diào)節(jié)掃描速度，檢測(cè)時(shí)在水平刻度τf = 60處發(fā)現(xiàn)一缺陷，求此缺陷的位置。
用2.5P20Z探頭檢測(cè)厚400mm的鋼鍛件，鋼中CL=5900m/s ， 衰減系數(shù)α2= 0.01dB/mm ， （1）如用試塊（衰減可忽略）上的深200mm ，Ф4mm的平底孔校準(zhǔn)400mm處檢測(cè)靈敏度（400/Ф2），兩者的波高差為多少？ （2）如果用厚度為200mm的試塊（鍛件與試塊衰減系數(shù)相同，耦合差為5dB）底波調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度（400/Ф2），兩者反射波高差為多少？
用單斜探頭直接接觸法檢測(cè)φ400×48mm無縫鋼管，求能夠檢測(cè)到管內(nèi)壁探頭的最大K值？
用2.5MHz、Φ20mm直探頭探測(cè)厚為200mm的餅形鍛件，已知底波B1=80%，B2=35%，若不計(jì)底面反射損失，求該鍛件的材質(zhì)衰減系數(shù)為多少？
用K2探頭探測(cè)T＝36mm鋼板對(duì)接焊接接頭，儀器按深度l：1調(diào)節(jié)，在顯示屏上利用CSK-ⅢA試塊繪制Φ1×6面板曲線，這時(shí)衰減器讀數(shù)為32dB，試塊與工件耦合差為5dB， （1）試問焊縫兩側(cè)的修磨寬度各為多少？（2）如何設(shè)定Φ1×6－9dB評(píng)定線靈敏度？
用5P10×12K2.5探頭，檢測(cè)板厚T = 20 mm 的鋼對(duì)接焊接接頭，掃描時(shí)基線按水平1：1調(diào)節(jié)，檢測(cè)時(shí)，水平刻度40和70mm處各發(fā)現(xiàn)缺陷波一個(gè)，試分別求這兩個(gè)缺陷的深度？