填空題在高于起始放電電壓時,絕緣的介質(zhì)損耗會隨電壓的增加而()。因此,用測量介質(zhì)損耗的方法,可以探測設(shè)備的局部放電,即所謂測量絕緣的()。但這種方法的靈敏度較低。

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