精密光學(xué)水準(zhǔn)儀測(cè)量高程時(shí)應(yīng)使用（）

度盤刻劃誤差，可以按照（）變換水平度盤位置削弱該誤差影響。

儀器及反光鏡的對(duì)中偏差均不應(yīng)大于（）。

雙面水準(zhǔn)尺中，以下說法正確的是（）。

精密經(jīng)緯儀的主軸線有視準(zhǔn)軸、（）、數(shù)軸和光學(xué)（激光）對(duì)中器視軸等。

利用偽距作空間交會(huì)來定位點(diǎn)位的方法稱為（）

精密經(jīng)緯儀光學(xué)部件上出現(xiàn)線紋斑，則說明光學(xué)部件有（）現(xiàn)象。

載波相位測(cè)量如觀測(cè)過程中跟蹤衛(wèi)星信號(hào)沒有中斷，則初始時(shí)刻整周相位是未知數(shù)，通常為一個(gè)常數(shù)，稱為（）

設(shè)A點(diǎn)高程1279.25m，B點(diǎn)上安置經(jīng)緯儀，儀器高為1.43m，平距DAB=341.23m，觀測(cè)A點(diǎn)上覘標(biāo)高為4.0m的目標(biāo)得豎直角為-13°19′00″，則由此算得B點(diǎn)的高程為（）

RTK測(cè)量的基本工作流程中，在至少（）個(gè)公共點(diǎn)上求WGS 84坐標(biāo)與已知地方坐標(biāo)系之間的轉(zhuǎn)換參數(shù)（即點(diǎn)校正）。