對于劇烈放熱效應的特殊樣品，例如爆炸物等，應加大熱分析設(shè)備的加熱速率。

掃描電子顯微鏡隨放大倍數(shù)的增大，電子束直徑（）。

DMA測試常見的兩種掃描測試方式為（）。

透射式高能電子衍射只適用于對薄層樣品的分析的原因在于與X射線相比，電子穿透能力差。

受力流動成型和自由流動成型方式均是在物料流動狀態(tài)下進行，區(qū)別在于有無外力作用。

在材料后加工方式中，下列（）不屬于修飾的加工方法。

高分辨成像含兩個基本過程，分別對應著數(shù)學上的傅里葉變換和反傅里葉變換。

樣品質(zhì)量偏大可能會造成失重曲線向高溫方向偏移。

不存在位錯、第二相粒子等缺陷的晶體，稱為理想晶體或者是完整晶體。

電子探針的主要作用是用來進行（）分析。