多項(xiàng)選擇題高壓發(fā)生電路是X 射線管工作的基本電路,按加在X 射線管兩極上的電壓波形可分為()。
A.半波整流
B.全波整流
C.倍壓整流
D.恒直流
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1.多項(xiàng)選擇題缺陷測(cè)長法包括()。
A.端部回波峰值法
B.絕對(duì)靈敏度法
C.端點(diǎn)峰值法
D.相對(duì)靈敏度法
2.多項(xiàng)選擇題觀片室工作環(huán)境要求是()。
A.單獨(dú)布置
B.室內(nèi)光線明亮
C.室內(nèi)光線偏暗
D.和其他工作室隔離
3.多項(xiàng)選擇題如果分子的勢(shì)能改變了,說明()改變了。
A.物體的體積
B.物體的形態(tài)
C.物體的物態(tài)
D.物體材質(zhì)特性
4.多項(xiàng)選擇題超聲波探頭發(fā)射的超聲脈沖頻率有一定帶寬,寬帶探頭對(duì)應(yīng)的()。
A.脈沖寬度較寬
B.脈沖寬度較小
C.靈敏度低
D.靈敏度高
5.多項(xiàng)選擇題熒光磁粉檢測(cè)時(shí),磁痕觀察環(huán)境條件要求有()。
A.使用黑光燈,暗區(qū)內(nèi)觀察
B.可見光照度不大于20lx
C.可以戴光敏晶片的眼鏡
D.可以戴防紫外光的眼鏡
最新試題
與一次射線相比,散射線的()。
題型:多項(xiàng)選擇題
潤濕是受檢表面附著的氣體被滲透液體所取代的現(xiàn)象,發(fā)生潤濕時(shí)()。
題型:多項(xiàng)選擇題
顯影斑紋呈黑色條狀或?qū)拵?,在整張底片范圍出現(xiàn),其產(chǎn)生的原因是()。
題型:多項(xiàng)選擇題
大厚度比試件透照特殊技術(shù)中的補(bǔ)償技術(shù)是指利用()填補(bǔ)工件的較薄部分,使透照厚度差減小的方法。
題型:多項(xiàng)選擇題
Z 超聲波檢測(cè)鑄件時(shí)可作為缺陷記錄的是()。
題型:多項(xiàng)選擇題
磁場(chǎng)信號(hào)測(cè)量中可采用()方法。
題型:多項(xiàng)選擇題
冷裂紋常見的有()。
題型:多項(xiàng)選擇題
超聲波檢測(cè)夾渣缺陷反射波特征包括()。
題型:多項(xiàng)選擇題
探頭主聲束()將會(huì)影響對(duì)缺陷的定位和判別。
題型:多項(xiàng)選擇題
表面波檢測(cè)中,利用表面波檢測(cè)()效果好。
題型:多項(xiàng)選擇題