判斷題單晶片探頭接觸法探傷中，與探測面十分接近的缺陷往往不能有效地檢出，這是因為盲區(qū)。
您可能感興趣的試卷
最新試題
通常所謂20KV的X射線是指（）
題型：單項選擇題
射線照片上一個細節(jié)的影像是否能被眼睛識別出來，最主要的是決定于（）
題型：單項選擇題
若評片燈亮度增為原來的兩倍，則底片透光度（It/I0）變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>
題型：單項選擇題
一個均勻的輻射光束強度為I0的射線，穿過一個厚度為X的物質(zhì)，其強度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）
題型：單項選擇題
最容易發(fā)生光電效應的射線能量為（）
題型：單項選擇題
以下耦合劑中，可用于粗糙表面檢測的是（）
題型：單項選擇題
光電效應發(fā)生的機率隨什么變化（）
題型：單項選擇題
發(fā)生康普頓散射的條件是（）
題型：單項選擇題
對軸類鋼制鍛件，用2.5P14的直探頭，在圓周面上用底波作基準反射而進行靈敏度調(diào)整時，該軸鍛件的直徑至少應大于（）
題型：單項選擇題
某超聲波探頭，壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm，則該探頭工作頻率為（）
題型：單項選擇題