軸向測(cè)距可以應(yīng)用于復(fù)雜工件的（）等方面。

以下不能用傅里葉變換光譜儀測(cè)量的是（）。

電光效應(yīng)反映介質(zhì)折射率與電場(chǎng)強(qiáng)度可能呈（）。

紅外檢測(cè)技術(shù)是集光電成像、計(jì)算機(jī)技術(shù)、圖像處理于一身的綜合光電檢測(cè)技術(shù)。

CMOS的字母C的英文單詞是（）。

下列應(yīng)用屬于光度測(cè)量方法應(yīng)用的是（）。

熱釋電器件是一種利用某些晶體材料的自發(fā)極化強(qiáng)度隨溫度變化而產(chǎn)生的熱釋電效應(yīng)制成的熱探測(cè)器件。

幾何變換的光電檢測(cè)方法，是利用光束傳播的（）、成像等光學(xué)變換方法進(jìn)行的光電檢測(cè)和控制。

對(duì)于相干檢測(cè)方法，（）干涉條紋的間距，有利于提高信號(hào)檢測(cè)的對(duì)比度和增大交變分量的幅值。

光電探測(cè)器的選擇要點(diǎn)包括（）。