（）需要試樣與參比物之間溫度始終保持相同。

電子探針的能譜儀和波譜儀比較，波譜儀（）。

熱分析中對樣品的重量沒有要求，只要樣品尺寸能放進坩堝內(nèi)，就可以獲得良好的測試結(jié)果。

在熱分析技術(shù)中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。

被樣品原子核反彈回來的入射電子稱為非彈性背散射電子，能量基本上沒有損失。

在電子探針中，測定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀，簡寫為（）。

差熱分析中，若試樣沒有熱效應時，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱為（）。

1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

熱分析技術(shù)中，試樣用量越多，熱效應大，內(nèi)部傳熱慢，溫度梯度大，導致峰形擴大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。

拉曼光譜分析時，1500cm-1以上的譜帶必定是一個基團的頻率，解釋通常是可靠的，一般可以確信其推論。