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A.由于內(nèi)嵌測(cè)試模式發(fā)生器，不需要額外生成測(cè)試模式
B.由于只輸出GO/NOGO，故障分析很困難
C.由于內(nèi)嵌測(cè)試輸出評(píng)估部，不需要高價(jià)測(cè)試設(shè)備，可降低成本
D.不可用于Burn-In測(cè)試

A.禁止使用循環(huán)組合電路
B.FF的時(shí)鐘信號(hào)必須能夠從外部端口直接控制
C.FF的復(fù)位信號(hào)必須能夠從外部端口直接控制
D.掃描測(cè)試時(shí)，RAM和內(nèi)核需要分開(kāi)進(jìn)行設(shè)計(jì)