A.進(jìn)行極差分析
B.進(jìn)行F檢驗(yàn)
C.計(jì)算誤差貢獻(xiàn)率
D.進(jìn)行相關(guān)系數(shù)的檢驗(yàn)
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A.評(píng)估各因素的顯著性
B.可以進(jìn)行誤差影響程度分析
C.可評(píng)估對(duì)總方差的貢獻(xiàn)率
D.可以獲得大致的顯著性水平
A.實(shí)現(xiàn)更優(yōu)的指標(biāo)
B.尋找某指標(biāo)的新測(cè)量方法
C.改變?cè)械脑牧象w系,如添加某工業(yè)廢棄物、納米材料、石墨烯等,嘗試加入新改性劑
D.某工藝流程改變,對(duì)原材料和配方等的影響
E.因素和水平的組合沒有現(xiàn)成的方法,尋找新的組合方法
A.各因素的影響程度大小順序
B.每個(gè)因素最優(yōu)水平
C.所有因素的最優(yōu)水平組合
D.缺因素安排時(shí),還可粗略估計(jì)誤差的影響程度
A.直接選擇混合水平正交表
B.采用虛擬水平法
C.采用水平追加法
D.對(duì)水平進(jìn)行重新組合的組合法
A.根據(jù)因素本身的影響順序
B.根據(jù)實(shí)際工程中,各指標(biāo)的重要性
C.給予指標(biāo)賦權(quán)重,進(jìn)行綜合評(píng)估
D.重要程度相同時(shí),可以采取實(shí)驗(yàn)次數(shù)的多少
最新試題
在材料后加工方式中,下列()不屬于修飾的加工方法。
支持膜或復(fù)型薄膜不應(yīng)該顯示出()。
衍射線在空間的分布(也就是晶面間距)主要反映()。
電子探針的主要作用是用來進(jìn)行()分析。
TMA測(cè)試材料的尺寸變化,因此只能利用它表征材料尺寸。
透射式高能電子衍射只適用于對(duì)薄層樣品的分析的原因在于與X射線相比,電子穿透能力差。
各種高聚物都存在老化問題,下列()老化現(xiàn)象不是由于高分子鏈交聯(lián)引起的。
色譜-質(zhì)譜聯(lián)用技術(shù)既發(fā)揮了色譜法的分離能力,又發(fā)揮了質(zhì)譜法的高鑒別能力。
對(duì)第二相的形狀、大小以及成分進(jìn)行分析的復(fù)型方法是()。
不存在位錯(cuò)、第二相粒子等缺陷的晶體,稱為理想晶體或者是完整晶體。