A.物鏡、中間鏡和投影鏡放大倍數(shù)之和
B.物鏡、中間鏡和投影鏡放大倍數(shù)之積
C.熒光屏上圖像的邊長(zhǎng)與電子束在樣品上的掃描振幅之比
D.熒光屏上圖像的邊長(zhǎng)與電子束在樣品上的掃描振幅之積
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A.狹縫寬度
B.掃描范圍
C.掃描速度
D.曝光時(shí)間
A.K值法屬于內(nèi)標(biāo)法
B.對(duì)于含有非晶成分的樣品不適用
C.適合于n≥2的混合樣品的定量分析
D.需要在試樣中加入標(biāo)準(zhǔn)相來(lái)進(jìn)行分析
A.充分條件
B.必要條件
C.充要條件
D.非充分或者必要條件
最新試題
差熱分析中，若試樣沒(méi)有熱效應(yīng)時(shí)，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱(chēng)為（）。
1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。
關(guān)于stokes線和anti-Stokes線，說(shuō)法正確的是（）。
與光鏡呈像相比，掃描電鏡圖像立體感強(qiáng)，形態(tài)逼真，這是由于掃描電鏡的（）比光鏡大100-500倍。
X射線衍射儀中，通常用于測(cè)定2θ范圍不大的一段衍射圖，常用于精確測(cè)定衍射峰的積分強(qiáng)度和位置的掃描方式為（）。
當(dāng)?shù)挂浊蚺c反射球相交，交線是一個(gè)圓環(huán)，環(huán)上每一點(diǎn)都滿(mǎn)足衍射條件，可以產(chǎn)生衍射。
在熱分析技術(shù)中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測(cè)定材料在恒溫過(guò)程中發(fā)生的變化。
掃描隧道顯微鏡能用于觀察導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體材料的表面結(jié)構(gòu)。
拉曼光譜分析時(shí)，1500cm-1以上的譜帶必定是一個(gè)基團(tuán)的頻率，解釋通常是可靠的，一般可以確信其推論。
在體心點(diǎn)陣中，當(dāng)（HKL）晶面的H+K+L為奇數(shù)時(shí)，產(chǎn)生系統(tǒng)消光。