多項(xiàng)選擇題使用一個(gè)探頭進(jìn)行超聲波探傷的檢測(cè)方法稱為單探頭法，這個(gè)探頭用來（）。
A.接收超聲波
B.發(fā)射超聲波
C.加強(qiáng)超聲波
D.抑制超聲波
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1.多項(xiàng)選擇題V 形缺口試樣的特點(diǎn)包括（）。
A.對(duì)材料脆性轉(zhuǎn)變不敏感
B.斷口分析比較清晰
C.應(yīng)力集中大
D.缺口尖銳
2.多項(xiàng)選擇題對(duì)于金屬材料，如果探頭的頻率過高，在實(shí)際檢測(cè)時(shí)由于晶界的散射會(huì)出現(xiàn)草狀回波，會(huì)出現(xiàn)（）等情況。
A.信噪比提高
B.信噪比下降
C.缺陷檢出困難
D.缺陷容易檢出
3.多項(xiàng)選擇題數(shù)字實(shí)時(shí)成像通過探測(cè)器和計(jì)算機(jī)轉(zhuǎn)換信號(hào)后，最終在顯示器上可以完成（）等工作。
A.觀察缺陷
B.處理缺陷
C.評(píng)定缺陷
D.存儲(chǔ)圖像
4.多項(xiàng)選擇題γ射線探傷設(shè)備的源組件也稱為源辮，源辮的主要組件包括（）。
A.放射源
B.包殼
C.輸源管
D.辮子
5.多項(xiàng)選擇題缺陷的狀況對(duì)檢測(cè)有很多影響，主要影響因素有（）。
A.缺陷性質(zhì)
B.缺陷方位
C.缺陷波的指向性
D.工件形狀和尺寸
最新試題
下列關(guān)于顯像劑粉末吸附缺陷中滲透劑的說法正確的有（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
板波的類型有（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
探傷儀面板上負(fù)責(zé)掃描電路的控制旋鈕有（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
各種電氣設(shè)備都有各自的保護(hù)系統(tǒng)，X 射線機(jī)的保護(hù)系統(tǒng)主要有（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
壓電晶體產(chǎn)生的壓電效應(yīng)主要有（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
滲透檢測(cè)通常在（）前進(jìn)行，表面處理后局部加工時(shí)需再次檢測(cè)。
題型：多項(xiàng)選擇題
磁粉檢測(cè)用的黑光燈發(fā)出的光包含有（），而把不需要的光線用濾光片過濾掉。
題型：多項(xiàng)選擇題
下列關(guān)于照射場的大小對(duì)散射比的影像的說法，錯(cuò)誤的有（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
金屬材料的基本力學(xué)行為是指金屬材料在不同載荷作用下產(chǎn)生一些現(xiàn)象，這種現(xiàn)象包括（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
常用的顯像方法包括（）。
題型：多項(xiàng)選擇題