A.當(dāng)量法
B.缺陷回波高度法
C.底面回波高度法
D.延伸度定量評(píng)定法
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.是所加電脈沖持續(xù)時(shí)間的函數(shù)
B.是儀器接收器放大特性的函數(shù)
C.是晶片厚度的函數(shù)
D.以上都不對(duì)
A.大于入射角
B.小于入射角
C.等于入射角
D.在臨界角之外
A.入射縱波軸線與通過(guò)入射點(diǎn)法線的夾角
B.入射橫波軸線與通過(guò)入射點(diǎn)法線的夾角
C.傾斜晶片與探測(cè)面的夾角
D.入射波軸線與界面的夾角
A.0.2mm
B.0.4mm
C.0.8mm
D.1.6mm
A.水溫升高,聲速變大
B.水溫升高,聲速變小
C.水溫升高,聲速不變
D.呈波浪型變化
最新試題
下列對(duì)耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述,不正確的一項(xiàng)是()
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是()
發(fā)生康普頓散射的條件是()
物質(zhì)對(duì)輻射的吸收是隨什么而變()
超聲波斜探頭的K值等于()的正切值。
以下試塊中,能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是()
射線照片上一個(gè)細(xì)節(jié)的影像是否能被眼睛識(shí)別出來(lái),最主要的是決定于()
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()
影響較大的散射線通常來(lái)自()