A.±3%和±1%
B.±2%和±1%
C.±5%和±1%
D.+3%和-1%
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A.分辨力
B.重復(fù)頻率
C.水平線性
D.分辨頻率
A.分辨力和靈敏度
B.指向性和近場(chǎng)長(zhǎng)度
C.折射角和入射角
D.指示長(zhǎng)度
A.用直徑較小的探頭進(jìn)行檢驗(yàn)
B.用頻率較低的縱波進(jìn)行檢驗(yàn)
C.將接觸法檢驗(yàn)改為液浸法檢驗(yàn)
D.將縱波檢驗(yàn)改為橫波檢驗(yàn)
A.反射橫波與入射波平行但方向相反
B.入射角為30°時(shí)的反射率最高
C.入射角為45°時(shí)的反射率最高
D.入射角為60°時(shí)的反射率最低
A.入射聲壓
B.反射聲強(qiáng)
C.界面兩側(cè)的聲阻抗差異
D.界面兩側(cè)的聲速差異
最新試題
康普頓效應(yīng)對(duì)射線檢測(cè)的影響包括()
通常所謂20KV的X射線是指()
對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷,一般采用()檢測(cè)。
對(duì)于鉬靶X射線管,在管電壓低于()千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。
光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化()
影響較大的散射線通常來自()
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()
調(diào)節(jié)掃描速度時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為()
物質(zhì)對(duì)輻射的吸收是隨什么而變()