A.掃查時(shí),觀察是否出現(xiàn)異常的固定回波
B.在參考試塊上檢查裂紋信號(hào)是否有明顯降低
C.掃查時(shí),觀察熒光屏基線上噪聲信號(hào)是否靜止或消失
D.以上都是
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A.一次底面回波幅度是否變化
B.底面回波位置是否變化
C.多次底面回波幅度是否變化
D.雜波是否增加
A.橫波
B.縱波
C.表面波
D.以上全部
A.螺栓材料狀態(tài)改變
B.螺栓尺寸改變
C.螺栓已經(jīng)斷裂
D.都有可能
A.移動(dòng)探頭至裂紋顯示波高與人工反射體波高相同的點(diǎn);
B.移動(dòng)探頭至裂紋顯示波高與底面回波高度相同的點(diǎn);
C.移動(dòng)探頭至裂紋顯示波高50%的點(diǎn);
D.以上都可以。
A.0.8mm
B.1.2mm
C.2.0mm
D.3.2mm
最新試題
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。