A.>1.0
B.>2.0
C.>1.69
D.>1.33
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A.P圖
B.nP圖
C.X Bar-R圖
D.u圖
A.Cpk越高越好
B.處于1.33~1.67之間,表明狀態(tài)良好,維持現(xiàn)狀即可
C.處于1.0~1.33,表明制程不良較多,需提升其能力
D.Cpk<0.67,表明制程不良較多,需提升其能力
A.產(chǎn)品開(kāi)發(fā)試產(chǎn)時(shí)
B.過(guò)程變更時(shí)
C.產(chǎn)品變更時(shí)
D.試產(chǎn)轉(zhuǎn)量產(chǎn)時(shí)
A.規(guī)格是由客戶(hù)給出
B.控制界限由過(guò)程的實(shí)際數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)計(jì)算得出
C.一般過(guò)程能力好的情況下,管制界限之寬度比規(guī)格界限之寬度寬
D.規(guī)格是設(shè)計(jì)部門(mén)給出
A.nP圖
B.P圖
C.X Bar-R圖
D.U圖
最新試題
Xbar管制圖中大部分點(diǎn)落在管制界限之內(nèi),代表觀(guān)測(cè)的變異主要部分來(lái)源于()。
平均數(shù)管制圖中,我們希望看大部分點(diǎn)都落于管制限()。
以下不屬于Gage R&R判定量測(cè)系統(tǒng)是否可接受的指針是()。
測(cè)量系統(tǒng)的精確性,包含哪些內(nèi)容?()
量測(cè)系統(tǒng)指針(%Contribution)是衡量量測(cè)系統(tǒng)變異占觀(guān)測(cè)總變異的百分比,某量測(cè)系統(tǒng)%Contribution=9.5%,則該量測(cè)系統(tǒng)()。
以下哪個(gè)不是測(cè)量系統(tǒng)精確性分析中評(píng)估者的偏差的來(lái)源(再現(xiàn)性)?()
研究變異滿(mǎn)足的條件是()。
如果取樣不能代表制造過(guò)程的變異,合適的評(píng)價(jià)指標(biāo)是()。
Gage R&R分析錯(cuò)誤的是()。
人工目視檢查表面缺陷,屬于那種測(cè)量系統(tǒng)?()