A.相同型號(hào)的硬盤(pán),缺陷表可以相互替換B.P-List損壞和G-List損壞相比,前者導(dǎo)致的數(shù)據(jù)問(wèn)題往往更嚴(yán)重C.相同數(shù)量的缺陷扇區(qū)數(shù)存在于P-List或G-List,相對(duì)連續(xù)讀寫(xiě)而言,P-List缺陷對(duì)性能的影響更小D.一塊經(jīng)過(guò)工廠嚴(yán)格測(cè)試的硬盤(pán),也可能有缺陷扇區(qū)
A.BIOS無(wú)法識(shí)別硬盤(pán)B.BIOS里可以識(shí)別硬盤(pán)型號(hào),但無(wú)法識(shí)別容量C.BIOS可以識(shí)別型號(hào),但容量變小D.操作系統(tǒng)啟動(dòng)時(shí)提示用戶(hù)密碼錯(cuò)誤
A.3.5B.2.5C.3.0D.1.8