多項(xiàng)選擇題

關(guān)于缺陷表的說(shuō)法,正確的是()。

A.相同型號(hào)的硬盤(pán),缺陷表可以相互替換
B.P-List損壞和G-List損壞相比,前者導(dǎo)致的數(shù)據(jù)問(wèn)題往往更嚴(yán)重
C.相同數(shù)量的缺陷扇區(qū)數(shù)存在于P-List或G-List,相對(duì)連續(xù)讀寫(xiě)而言,P-List缺陷對(duì)性能的影響更小
D.一塊經(jīng)過(guò)工廠嚴(yán)格測(cè)試的硬盤(pán),也可能有缺陷扇區(qū)

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