掃描隧道顯微鏡能用于觀察導體、半導體和絕緣體材料的表面結構。

利用電子探針的波譜儀，一個分光晶體能夠覆蓋的波長范圍有限的，因此一個分光晶體只能檢測一定原子序數范圍的元素。

拉曼光譜分析儀在使用過程中，正確的實驗操作有（）。

在電子探針面分析中，根據圖像上亮點的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。

拉曼光譜分析時，1500cm-1以上的譜帶必定是一個基團的頻率，解釋通常是可靠的，一般可以確信其推論。

利用電子探針對材料微區(qū)成分進行面分析，包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。

1887年，Hertz建立了XPS技術的理論模型。

差熱分析中，若試樣沒有熱效應時，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱為（）。

與光鏡呈像相比，掃描電鏡圖像立體感強，形態(tài)逼真，這是由于掃描電鏡的（）比光鏡大100-500倍。

在紅外光譜分析中，基本振動區(qū)是指（）。