單項(xiàng)選擇題對(duì)鍍銀層厚度測(cè)量方法存在質(zhì)疑時(shí)，可使用以下哪種方法進(jìn)行驗(yàn)證（）
A.庫(kù)倫法
B.X射線熒光法
C.高倍顯微鏡法
D.稱重法
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1.單項(xiàng)選擇題隔離開(kāi)關(guān)鍍銀層厚度檢測(cè)使用X射線熒光鍍層測(cè)厚儀，通過(guò)從被檢件上反射的二次X射線強(qiáng)度測(cè)量鍍銀層厚度，檢測(cè)范圍可達(dá)（）µm。
A.0.1-5
B.0.01-5
C.0.1-50
D.0.01-50
2.單項(xiàng)選擇題電網(wǎng)設(shè)備的光譜分析檢驗(yàn)常用哪種設(shè)備（）
A.看譜鏡
B.光電光譜分析儀
C.手持式X射線光譜儀
D.熒光光譜儀
3.單項(xiàng)選擇題目前在對(duì)隔離開(kāi)關(guān)觸頭鍍銀層厚度的監(jiān)督檢驗(yàn)時(shí)，發(fā)現(xiàn)有生產(chǎn)廠家采用現(xiàn)場(chǎng)刷鍍的方法提高隔離開(kāi)關(guān)觸頭鍍銀層厚度，以使得鍍銀層厚度達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)要求。這種方法屬于（）采用。
A.電鍍，推薦
B.化學(xué)鍍，推薦
C.電鍍，不推薦
D.化學(xué)鍍，不推薦
4.單項(xiàng)選擇題射線檢測(cè)RT是利用X射線、γ射線和中子射線穿透物體后的（）程度不同，根據(jù)膠片感光程度的不同來(lái)檢測(cè)物體（）缺陷。
A.增強(qiáng)；內(nèi)部
B.增強(qiáng)；表面
C.衰減；內(nèi)部
D.衰減；表面
5.單項(xiàng)選擇題DR檢測(cè)技術(shù)使用（）進(jìn)行成像。
A.膠片
B.數(shù)字成像板
C.IP板
D.膠卷
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技術(shù)監(jiān)督工作實(shí)行的原則是（）
題型：多項(xiàng)選擇題
以下關(guān)于射線檢測(cè)特點(diǎn)的敘述，正確的是（）
題型：多項(xiàng)選擇題
以下屬于螺栓型耐張線夾型式試驗(yàn)的試驗(yàn)項(xiàng)目有（）
題型：多項(xiàng)選擇題
技術(shù)監(jiān)督執(zhí)行單位應(yīng)配置開(kāi)展技術(shù)監(jiān)督所必需的裝備，做好（）的宣傳與推廣工作。
題型：多項(xiàng)選擇題
采用手持式合金分析儀對(duì)電網(wǎng)材料進(jìn)行光譜分析的主要目的有（）
題型：多項(xiàng)選擇題
用X射線熒光光譜儀對(duì)變電站密閉箱體和隔離開(kāi)關(guān)軸銷304不銹鋼光譜分析時(shí)，判斷材質(zhì)是否符合要求應(yīng)重點(diǎn)關(guān)注（）元素。
題型：多項(xiàng)選擇題
X熒光測(cè)厚儀優(yōu)點(diǎn)有（）
題型：多項(xiàng)選擇題
顯微鏡鍍層測(cè)厚法缺點(diǎn)是（）
題型：多項(xiàng)選擇題
測(cè)量伸長(zhǎng)用的試樣圓柱或棱柱部分的長(zhǎng)度，包括（）
題型：多項(xiàng)選擇題
光譜分析按結(jié)果準(zhǔn)確性可分為（）
題型：多項(xiàng)選擇題