單項(xiàng)選擇題對(duì)于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動(dòng),即可獲得缺陷的()所在的位置,從而定出缺陷的平面位置。

A.最小反射波高
B.最大反射波低
C.最大反射波高
D.最小反射波低


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1.單項(xiàng)選擇題對(duì)于長(zhǎng)條形試件,則常沿()作平行縱軸的直線式掃查。

A.長(zhǎng)度方向
B.周長(zhǎng)方向
C.圓周方向

2.單項(xiàng)選擇題對(duì)于圓盤(pán)形試件,常沿()在圓面上進(jìn)行掃查。

A.周長(zhǎng)方向
B.長(zhǎng)度方向
C.圓周方向

3.單項(xiàng)選擇題掃查方式一般視試件的()而定。

A.形狀
B.形狀及入射方向
C.入射方向
D.方向

4.單項(xiàng)選擇題當(dāng)波束不再與缺陷相遇,則回波()

A.理論計(jì)算
B.頻率單一
C.消失
D.聲稱

5.單項(xiàng)選擇題當(dāng)波束中心線與缺陷面()且回波最()時(shí),移動(dòng)探頭使波束中心(),回波高度當(dāng)隨之下降。

A.正交;高;偏離
B.正交;低;偏離
C.交叉;高;偏離
D.正交;高;脫離

最新試題

采用以()為橫坐標(biāo),以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實(shí)用AVG曲線。

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對(duì)于圓盤(pán)形試件,常沿()在圓面上進(jìn)行掃查。

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