渦流檢測線圈的互感線圈一般由（）構(gòu)成。

掃查方式一般視試件的（）而定。

缺陷愈大，所遮擋的聲束也愈多，底波波高也就愈低，這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的（）

（）件對(duì)不同類型的檢測對(duì)象和要求，采用的方式各有不同。

缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括（）、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。

對(duì)于圓盤形試件，常沿（）在圓面上進(jìn)行掃查。

用于測量黑光強(qiáng)度的現(xiàn)代黑光輻射照度計(jì)，其探頭（傳感器）的光敏組件的前面有（），只適用于測量黑光。

根據(jù)檢測對(duì)象和目的的不同，渦流檢測儀器一般可分為（）、渦流電導(dǎo)儀和渦流測厚儀三種。

在遠(yuǎn)場區(qū)，當(dāng)缺陷比聲束截面小時(shí)，缺陷波高與缺陷面積成（）

當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時(shí)，如果聲束軸線移到缺陷邊緣，缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時(shí)波高的（）