A.缺陷的分類
B.缺陷的衍射波和反射波
C.所有縱波
D.所有縱波、所有橫波,以及波形轉(zhuǎn)換后的一部分縱波和一部分橫波
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.縱波的傳播速度快
B.縱波的能量高
C.縱波的波長短
D.縱波的衰減小
A.相同頻率
B.相同角度
C.相同探頭延遲
D.相同入射點(diǎn)
A.波束擴(kuò)展太小
B.傳播時(shí)間太短
C.反射波會(huì)掩蓋衍射波
D.探頭頻率太低
A.折射角65度時(shí)信號(hào)波幅最大
B.折射角在38度時(shí)波幅下降很大
C.折射角在20度時(shí)波幅又回升
D.以上都對(duì)
A.比反射波信號(hào)強(qiáng)得多,且沒有明顯的指向性
B.比反射波信號(hào)弱得多,且沒有明顯的指向性
C.比反射波信號(hào)強(qiáng)得多,且有明顯的指向性
D.比反射波信號(hào)弱得多,且有明顯的指向性
最新試題
康普頓效應(yīng)對(duì)射線檢測的影響包括()
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()
當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí),部分被物體吸收,部分則穿透該物體,還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射,此散射為()
若評(píng)片燈亮度增為原來的兩倍,則底片透光度(It/I0)變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>
發(fā)生康普頓散射的條件是()
對(duì)于平行于檢測面的缺陷,一般采用()檢測。
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是()
對(duì)軸類鋼制鍛件,用2.5P14的直探頭,在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí),該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于()
以下耦合劑中,可用于粗糙表面檢測的是()
射線照片上一個(gè)細(xì)節(jié)的影像是否能被眼睛識(shí)別出來,最主要的是決定于()