被樣品原子核反彈回來的入射電子稱為非彈性背散射電子，能量基本上沒有損失。

利用電子探針對材料微區(qū)成分進行面分析，包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。

當(dāng)?shù)挂浊蚺c反射球相交，交線是一個圓環(huán)，環(huán)上每一點都滿足衍射條件，可以產(chǎn)生衍射。

透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過調(diào)節(jié)（）的位置來實現(xiàn)的。

在熱分析技術(shù)中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。

在體心點陣中，當(dāng)（HKL）晶面的H+K+L為奇數(shù)時，產(chǎn)生系統(tǒng)消光。

掃描隧道顯微鏡能用于觀察導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體材料的表面結(jié)構(gòu)。

在電子探針中，測定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀，簡寫為（）。

熱分析技術(shù)中，試樣用量越多，熱效應(yīng)大，內(nèi)部傳熱慢，溫度梯度大，導(dǎo)致峰形擴大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。

粉末多晶樣品中，不同晶面指數(shù)的倒易點分布在（）半徑的倒易球上。