A.從直通波之前一點(diǎn)點(diǎn)到剛剛超過底面反射縱波信號處
B.從直通波之后一點(diǎn)點(diǎn)到剛剛超過底面反射縱波信號處
C.從直通波之前一點(diǎn)點(diǎn)到剛剛超過第一種底面反射變型波處
D.從直通波之后一點(diǎn)點(diǎn)到剛剛超過第一種底面反射變型波處
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.焊縫余高的寬度
B.越大越好
C.越小越好
D.通過計(jì)算和工件厚度
A.底面波形轉(zhuǎn)換信號
B.直通波信號
C.起始信號
D.底面的反射縱波信號
A.儀器合格證書
B.直通波的到達(dá)時間
C.直通波和底面波相位變化
D.B和C都正確
A.12dB
B.18dB
C.24dB
D.30dB
A.設(shè)置的增益過低
B.設(shè)置的增益過高
C.A掃描參數(shù)設(shè)置出錯
D.PCS計(jì)算出錯
最新試題
下列對耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述,不正確的一項(xiàng)是()
一個均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過一個厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
若評片燈亮度增為原來的兩倍,則底片透光度(It/I0)變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>
當(dāng)射線穿透任何一物體時,部分被物體吸收,部分則穿透該物體,還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射,此散射為()
二次波檢測是一種特殊的檢測工藝,以下關(guān)于二次波檢測的做敘述,哪一條是錯誤的()
最容易發(fā)生康普頓效應(yīng)的射線能量為()
使用變型波檢測的一個優(yōu)點(diǎn)是()
對于鉬靶X射線管,在管電壓低于()千伏時是不會產(chǎn)生特征X射線的。
調(diào)節(jié)掃描速度時,應(yīng)使()同時對準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān),觀片燈亮度改變,最佳黑度值也將改變。