多項(xiàng)選擇題偽缺陷水跡可以發(fā)生在底片的任何部位,通過()幾點(diǎn)來判別。
A.黑度大
B.黑度不大
C.痕跡直而光滑
D.借助反射光可觀察到
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1.多項(xiàng)選擇題平板試件透照的散射比和()有關(guān)系。
A.射線能量
B.試件材質(zhì)
C.試件厚度
D.透照時(shí)間
2.多項(xiàng)選擇題對不能搬上固定式探傷設(shè)備的大型鍛鋼工件,采用()進(jìn)行局部檢測。
A.觸頭法
B.軸向通電法
C.磁軛法
D.繞電纜法
3.多項(xiàng)選擇題超聲波探頭內(nèi)保護(hù)膜會使()。
A.始波寬度增大
B.始波寬度減小
C.靈敏度提高
D.靈敏度降低
4.多項(xiàng)選擇題超聲波可檢測數(shù)米厚的金屬材料,是因?yàn)椋ǎ?/a>
A.超聲波能量高
B.超聲波穿透能力強(qiáng)
C.傳播距離大
D.超聲波頻率低
5.多項(xiàng)選擇題經(jīng)過熱處理的的高碳鋼和合金結(jié)構(gòu)鋼,滿足()條件才可以進(jìn)行剩磁法檢測。
A.矯頑力小于1KA/m
B.矯頑力大于1KA/m
C.剩磁小于0.8T
D.剩磁大于0.8T
最新試題
采用橫波斜探頭在圓柱曲面外圓進(jìn)行周向檢測時(shí),缺陷定位說法正確的有()。
題型:多項(xiàng)選擇題
鑄件熒光滲透檢測時(shí),()。
題型:多項(xiàng)選擇題
磁場信號測量中可采用()方法。
題型:多項(xiàng)選擇題
單晶體金屬特點(diǎn)有()。
題型:多項(xiàng)選擇題
用雙晶探頭檢測時(shí),為增加缺陷顯現(xiàn)次數(shù)和反射幅度,檢測細(xì)長缺陷應(yīng)使探頭()。
題型:多項(xiàng)選擇題
常規(guī)的縱波聲場或橫波聲場,聲速是以一定的角度擴(kuò)散出去的,所以有()。
題型:多項(xiàng)選擇題
滲透檢測時(shí),滲入的滲透液有一些被截留在缺陷內(nèi),將受檢部位置于合適的光源(發(fā)光強(qiáng)度足夠)下檢查時(shí),下列說法正確的有()。
題型:多項(xiàng)選擇題
超聲波檢測發(fā)現(xiàn)缺陷,在不同的方向上檢測,缺陷回波呈現(xiàn)此起比伏互相彼連的狀態(tài),判定為()。
題型:多項(xiàng)選擇題
化學(xué)反應(yīng)型著色滲透劑的特點(diǎn)是()。
題型:多項(xiàng)選擇題
探頭主聲束()將會影響對缺陷的定位和判別。
題型:多項(xiàng)選擇題