微電子學(xué)章節(jié)練習(xí)(2020.04.13)
來源:考試資料網(wǎng)參考答案:0.6*248/0.65=228.9 R=K*入/NA
參考答案:BF3;PH5;AsH5;SiH4
參考答案:1、接觸式曝光:分辨率較高,可在亞微米范圍內(nèi)。接觸時(shí)的微粒會在晶圓上產(chǎn)生缺陷,光刻版的壽命也會減短。
2、接近...
2、接近...
參考答案:
①材料準(zhǔn)備
②晶體生長與晶圓準(zhǔn)備
③芯片制造
④封裝
6.問答題為什么要進(jìn)行顯影后檢查?
參考答案:為了查找光刻膠中成形圖形的缺陷,鑒別并除去有缺陷的硅片,用來檢查光刻工藝的好壞,為光學(xué)光刻工藝生產(chǎn)人員提供用于糾正的信息...
參考答案:載流子漂移(電流)和擴(kuò)散(電流)過程保持平衡(相等),形成自建場和自建勢在PN結(jié)上外加一電壓,如果P型一邊接正極,N型一...
8.問答題簡述硅氣相外延的原理?
參考答案:920A(每生長1000A的氧化物,就有460A的硅被消耗)
10.填空題入射離子的兩種能量損失模型為:核碰撞和()碰撞。