CMOS的字母C的英文單詞是（）。

在設(shè)計(jì)和分析交變光信號(hào)檢測(cè)電路頻率特性時(shí)，應(yīng)包括下列（）基本內(nèi)容。

下列應(yīng)用屬于光度測(cè)量方法應(yīng)用的是（）。

在紅外數(shù)字計(jì)數(shù)器中，每當(dāng)物件通過紅外對(duì)射管中間一次，紅外光被遮擋一次，光電接收管的輸出電壓就發(fā)生一次變化。

以下屬于聲光調(diào)制晶體的有（）。

熱釋電器件是一種利用某些晶體材料的自發(fā)極化強(qiáng)度隨溫度變化而產(chǎn)生的熱釋電效應(yīng)制成的熱探測(cè)器件。

電光效應(yīng)反映介質(zhì)折射率與電場(chǎng)強(qiáng)度可能呈（）。

光電檢測(cè)電路的設(shè)計(jì)要求包括（）。

以下不屬于光纖干涉儀的有（）。

對(duì)于相干檢測(cè)方法，（）干涉條紋的間距，有利于提高信號(hào)檢測(cè)的對(duì)比度和增大交變分量的幅值。