A.缺陷深度
B.信號脈沖的長度
C.探頭中心間距
D.晶片尺寸
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.嚴(yán)重影響缺陷高度的測量精度
B.嚴(yán)重影響V形坡口根部缺陷的檢出
C.只在非平行掃查中存在
D.只在平行掃查中存在
A.隨探頭折射角減小而減小,隨底面焊縫寬度的增大而增大
B.隨探頭折射角減小而增大,隨底面焊縫寬度增大而增大
C.隨探頭折射角減小而減小,隨探頭脈沖寬度減小而減小
D.隨探頭折射角減小而增大,隨探頭脈沖寬度減小而增大
A.探頭脈沖周期減少可以減小直通波盲區(qū)
B.如果PCS減小,則直通波盲區(qū)減小
C.增加探頭頻率可以減小直通波盲區(qū)
D.減小探頭晶片尺寸可以減小直通波盲區(qū)
A.近表面深度測量,時間上一個很小的誤差會給深度帶來很大的誤差
B.近表面深度測量,深度上一個很小的誤差會給時間帶來很大的誤差
C.減小探頭中心間距可以改善近表面區(qū)域的分辨力
D.增加探頭頻率可以改善近表面區(qū)域的分辨力
A.近表面深度分辨力不高
B.近表面信號淹沒在直通波內(nèi)導(dǎo)致漏檢
C.在進(jìn)行非平行掃查時底面存在盲區(qū)
D.在進(jìn)行平行掃查是底面存在盲區(qū)
最新試題
對軸類鋼制鍛件,用2.5P14的直探頭,在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時,該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于()
對于平行于檢測面的缺陷,一般采用()檢測。
底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是()
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
調(diào)節(jié)掃描速度時,應(yīng)使()同時對準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識別性主要決定于()
不同材料的相對吸收系數(shù)()
最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為()
探頭的分辨力()
對于鉬靶X射線管,在管電壓低于()千伏時是不會產(chǎn)生特征X射線的。