A.大于
B.等于
C.小于
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A.是粘度的函數(shù)，并隨表面張力的減小而增大
B.用接觸角表示，與表面張力無關(guān)
C.用接觸角度衡量，并隨表面張力增大而減小
D.用表面張力度量，并隨接觸角減小而增大
A.大直徑高頻率探頭
B.小直徑高頻探頭
C.大直徑低頻率探頭
D.以上A和B
A.細(xì)晶組織；
B.耦合劑不清潔；
C.表面粗糙；
D.粗晶組織
A.提高對小缺陷的檢測能力
B.降低對缺陷的定位精度
C.減少對相鄰缺陷的分辨率
A.大
B.與擴(kuò)散角無關(guān)
C.小
D.應(yīng)視頻率和介質(zhì)特性綜合決定，不能一概而論
最新試題
缺陷相對反射率即缺陷反射聲壓與基準(zhǔn)反射體聲壓之比。
無論聲波相對于缺陷是垂直入射還是斜入射，缺陷大小不同其反射波的指向性有相當(dāng)大的差異。
由于圓柱形工件有一定的曲率，直探頭與工件直接接觸時，接觸面為一條很寬的條形區(qū)域，從在而在圓柱的橫截面內(nèi)會產(chǎn)生強(qiáng)烈的聲束擴(kuò)散。
當(dāng)探頭的性能不佳時出現(xiàn)兩個主聲束，發(fā)現(xiàn)缺陷時很難判斷是哪個主聲束發(fā)現(xiàn)的，因此也就難以確定缺陷的實際位置。
衍射時差法對缺陷檢出率高，超聲波束覆蓋區(qū)域大，缺陷高度測量精確，實時成像，快速分析。
橫波檢測平板對接焊縫根部未焊透等缺陷時，不同K值探頭檢測同一根部缺陷，其回波高相差不大。
對于比正?？v波底面回波滯后的變形波稱為遲到回波。
根據(jù)球形反射體返回晶片聲壓的計算公式與圓柱形平面反射體的表達(dá)式進(jìn)行比較可知，在反射體直徑相同的情況下，圓形反射體的反射聲壓比球形反射體的反射壓小。
為了減少側(cè)壁的影響，必要時可采用試塊比較法進(jìn)行定量，以便提高定量精度。
分辯率可使用通用探傷儀進(jìn)行測量，測試時儀器抑制置“零”或“開”位，必要時可加匹配線圈。