A.熒光屏“噪聲”信號過高
B.時基線傾斜
C.始脈沖消失
D.容易出現(xiàn)“幻像波”
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A.電流密度
B.電壓
C.磁感應(yīng)強(qiáng)度
D.頑磁性
A.增感
B.防散射
C.射線防護(hù)
D.防反射
A.工件厚度減小
B.焦點尺寸減小
C.工件厚度增加
D.焦距增大
A.檢驗臺的位置
B.零件的材料、形狀和狀態(tài)
C.零件的磁導(dǎo)率
D.B和C
A.曝光量
B.清晰度
C.焦點
D.焦距
最新試題
發(fā)射電壓幅度也就是發(fā)射脈沖幅度,它的高低主要影響發(fā)射的超聲波能量。
動態(tài)范圍的最小信號可能受到放大器的飽合或系統(tǒng)噪聲的限制。
對于圓柱體而言,外圓徑向檢測實心圓柱體時,入射點處的回波聲壓理論上同平底面工件相同。
高溫探頭前面殼體與晶片之間采用特殊釬焊,使之形成高溫耦合層。
由于圓柱形工件有一定的曲率,直探頭與工件直接接觸時,接觸面為一條很寬的條形區(qū)域,從在而在圓柱的橫截面內(nèi)會產(chǎn)生強(qiáng)烈的聲束擴(kuò)散。
橫波檢測平板對接焊縫根部未焊透等缺陷時,不同K值探頭檢測同一根部缺陷,其回波高相差不大。
儀器時基線調(diào)節(jié)比例時,若回波前沿沒有對準(zhǔn)相應(yīng)垂直刻度或讀數(shù)不準(zhǔn),會使缺陷定位誤差增加。
當(dāng)探頭與被檢工件表面耦合狀態(tài)不同時,而又沒有進(jìn)行適當(dāng)?shù)难a(bǔ)償,會使定量誤差增加,精度下降。
根據(jù)球形反射體返回晶片聲壓的計算公式與圓柱形平面反射體的表達(dá)式進(jìn)行比較可知,在反射體直徑相同的情況下,圓形反射體的反射聲壓比球形反射體的反射壓小。
由于超聲波對進(jìn)入面的表面粗糙度、入射超聲束的方向等有一定的要求,必要時應(yīng)通過增添專門的工序,采用經(jīng)批準(zhǔn)的加工方法準(zhǔn)備超聲波進(jìn)入面。