單項(xiàng)選擇題在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)用探測(cè)面為平面的對(duì)比試塊中的Φ2mm平底孔校準(zhǔn)的探傷靈敏度,去探測(cè)一個(gè)探測(cè)面為圓柱面的試件,發(fā)現(xiàn)一個(gè)深度和回波高度均與上述試塊平底回波相同的缺陷,則該缺陷的當(dāng)量:()

A、等于Φ2mm平底孔
B、比Φ2mm平底孔大
C、比Φ2mm平底孔小
D、大于等于Φ2mm平底孔


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1.單項(xiàng)選擇題用三個(gè)平底孔試塊制作距離──幅度校正曲線時(shí),有時(shí)得到最靠近探頭的孔的回波高度低于其它一個(gè)或兩個(gè)孔回波,這可能是由于:()

A、試塊探測(cè)面表面狀態(tài)不一致
B、近場(chǎng)中干涉的影響
C、孔的幾何形狀不準(zhǔn)確
D、全都可能

4.單項(xiàng)選擇題任何一種超聲波探傷方法中,正確地解釋和評(píng)價(jià)缺陷回波都是很重要的,通常使用的評(píng)價(jià)缺陷尺寸的方法有:()

A、雙探頭檢測(cè)法
B、標(biāo)準(zhǔn)壓電元件法
C、波型轉(zhuǎn)換法
D、試塊對(duì)比法