A.光學(xué)測(cè)微器兩次重合讀數(shù)之差
B.半測(cè)回歸零差
C.一測(cè)回內(nèi)2C互差
D.同一方向值各測(cè)回較差
E.不同測(cè)回間2C互差

A.已知水平距離的測(cè)設(shè)
B.已知坐標(biāo)的測(cè)設(shè)
C.已知坡度的測(cè)設(shè)
D.已知水平角的測(cè)設(shè)
E.已知設(shè)計(jì)高程的測(cè)設(shè)

A.方位角推算方法不同
B.角度閉合差計(jì)算方法不同
C.坐標(biāo)增量閉合差計(jì)算方法不同
D.導(dǎo)線全長(zhǎng)閉合差計(jì)算方法不同
E.導(dǎo)線全長(zhǎng)相對(duì)閉合差計(jì)算方法不同

A.儀器工具誤差
B.系統(tǒng)誤差
C.外界環(huán)境條件
D.觀測(cè)誤差
E.偶然誤差

A.采用數(shù)字水準(zhǔn)儀進(jìn)行水準(zhǔn)測(cè)量時(shí)，應(yīng)每天檢校一次i角，作業(yè)開始后的7個(gè)工作日內(nèi)，若i角較為穩(wěn)定，以后每隔15天檢校一次
B.水準(zhǔn)觀測(cè)應(yīng)在標(biāo)尺分劃線成像清晰穩(wěn)定時(shí)進(jìn)行
C.在作業(yè)過程中應(yīng)隨時(shí)注意檢校標(biāo)尺上圓水準(zhǔn)器、水準(zhǔn)儀上概略水準(zhǔn)器。若對(duì)儀器某一部件的質(zhì)量有懷疑時(shí)，應(yīng)隨時(shí)進(jìn)行相應(yīng)項(xiàng)目的檢驗(yàn)
D.三、四等水準(zhǔn)測(cè)量采用尺臺(tái)做轉(zhuǎn)點(diǎn)尺承，尺承質(zhì)量不小于1Kg
E.三、四等水準(zhǔn)測(cè)量一對(duì)標(biāo)尺名義米長(zhǎng)偏差超過1mm禁止使用

A.i角誤差
B.轉(zhuǎn)點(diǎn)下沉
C.水準(zhǔn)尺弧面差
D.目鏡存在視差
E.水準(zhǔn)尺不鉛直

A.水準(zhǔn)儀法
B.激光鉛垂儀法
C.光學(xué)鉛垂儀法
D.全站儀彎管目鏡法
E.引張線法

A.由高級(jí)到低級(jí)
B.從整體到局部
C.逐級(jí)控制
D.保證精度
E.逐級(jí)加密