C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同，只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。

熒光磁粉檢測時，磁痕的評定應(yīng)在暗室或暗處進行，暗室或暗處可見光照度應(yīng)不小于20Lx。

相關(guān)顯示是由漏磁場吸附磁粉形成的磁痕顯示。

組合裝配件應(yīng)分解后再進行磁粉檢測。

用連續(xù)法檢測時，檢測靈敏度幾乎不受被檢工件材質(zhì)的影響，僅與被檢工件表面磁場強度有關(guān)。

磁粉檢測—橡膠鑄型法是采用連續(xù)法檢測。

采用剩磁法時，磁懸液應(yīng)在通電結(jié)束后再施加，一般通電時間為2～3s。

工件的退磁效果一般可用剩磁檢查儀或磁場強度計測定。

磁懸液應(yīng)采用軟管沖淋或浸漬法施加于工件表面。

JB/T4730.4-2005標準規(guī)定：兩條或兩條以上缺陷磁痕在同一直線上且間距不大于2mm時，按一條磁痕處理，其長度為兩條磁痕之和加間距。