底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。

（）是指在確定的聲程范圍內檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據產品技術要求或有關標準來確定。

靈敏度采用試塊調節(jié)法，下面說法錯誤的是（）。

（）是影響缺陷定量的因素。

單探頭法容易檢出（）。

利用底波計算法進行靈敏度校準時，適用的工件厚度為（）。

在對缺陷進行定量前，必須先調節(jié)（）。

縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時，在第一次底波之后，還有2個特定位置的反射波，這種波是（）。

（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。

底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進行靈敏度校準。