康普頓效應(yīng)對(duì)射線檢測的影響包括（）

對(duì)于鉬靶X射線管，在管電壓低于（）千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。

一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

使用變型波檢測的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是（）

影響較大的散射線通常來自（）

在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)（r、R為簡體的內(nèi)、外徑），斜探頭（β為折射角）的臨界角應(yīng)滿足（）

以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響（）

一般認(rèn)為表面波探測的有效深度約為（）

射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識(shí)別性主要決定于（）

不同材料的相對(duì)吸收系數(shù)（）