單項(xiàng)選擇題金屬材料中的粗大晶粒可能引起:()。
A.底波降低或消失
B.噪聲或雜波增大
C.超聲波嚴(yán)重衰減
D.以上都有
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1.單項(xiàng)選擇題斜探頭探傷時(shí)試塊上最常用的反射體是:()。
A.平底孔
B.長(zhǎng)橫孔
C.大平底
D.以上都可以
2.單項(xiàng)選擇題Φ12mm晶片5MHz直探頭在鋼中的指向角是:()。
A.5.6º
B.3.5º
C.6.8º
D.24.6º
3.單項(xiàng)選擇題在頻率一定和材料相同情況下,橫波對(duì)小缺陷探測(cè)靈敏度高于縱波,其原因:()。
A.橫波質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向?qū)θ毕莘瓷溆欣?br />
B.橫波探傷雜波少
C.橫波波長(zhǎng)短
D.橫波指向性好
4.單項(xiàng)選擇題在焊縫射線照相上黑度低于周圍面積看上去非常明亮的缺陷為:()。
A.夾銅(鎢)
B.夾雜
C.咬邊
D.非金屬夾雜物
5.單項(xiàng)選擇題鉛箔增感屏對(duì)膠片增感的原理為:()。
A.可見(jiàn)熒光
B.電子
C.β射線
D.中子射線
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二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝,以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述,哪一條是錯(cuò)誤的()
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當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí),部分被物體吸收,部分則穿透該物體,還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射,此散射為()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題