1887年，Hertz建立了XPS技術的理論模型。

電子探針的能譜儀和波譜儀比較，波譜儀（）。

在熱分析技術中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。

被樣品原子核反彈回來的入射電子稱為非彈性背散射電子，能量基本上沒有損失。

根據(jù)衍襯運動學原理，理想晶體衍射強度隨（）而變化。

熱分析中，不同性質的氣氛對測試結果沒有影響。

差熱分析中，若試樣沒有熱效應時，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱為（）。

電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

電子束與固體樣品作用時，會產生背散射電子。背反射電子的產額隨樣品（）的增加而增多。

掃描電鏡的背散射電子像中，圖像上亮區(qū)對應區(qū)域的原子序數(shù)（）暗區(qū)對應區(qū)域的原子序數(shù)。