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判斷題入射方向的選擇應(yīng)使聲束中心線與缺陷面特別是與最大受力方向垂直的缺陷盡可能地接近垂直。

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1.判斷題在使用對(duì)比試塊時(shí)，如果對(duì)比試塊與受檢件之間由于表面粗糙度不同或材質(zhì)不同而有聲傳輸特性差異時(shí)，應(yīng)進(jìn)行傳輸修正，修正可通過將來自對(duì)比試塊背面的回波幅度和來自同厚度受檢件背面的回波幅度進(jìn)行比較而確定。修正值超過±6dB，該對(duì)比試塊不應(yīng)采用。

參考答案：對(duì)

2.判斷題探頭晶片尺寸大時(shí)，近場(chǎng)的覆蓋范圍也大，晶片小時(shí)，近場(chǎng)的覆蓋范圍也小。但在遠(yuǎn)場(chǎng)處由于指向性的關(guān)系，大尺寸晶片的覆蓋范圍有可能小于尺寸晶片。

參考答案：對(duì)

3.判斷題探頭的選擇主要是對(duì)晶片尺寸、角度、頻率等幾個(gè)方面選擇。

參考答案：對(duì)

4.判斷題檢測(cè)條件有頻率、探頭、檢測(cè)部位及其粗糙度、檢測(cè)靈敏度。

參考答案：對(duì)

5.判斷題軸類鍛件的超聲檢測(cè)應(yīng)采用徑向檢驗(yàn)、軸向檢驗(yàn)、斜探頭周向檢驗(yàn)、斜探頭軸向檢驗(yàn)。

參考答案：對(duì)