A.相關(guān)系數(shù)
B.判定系數(shù)
C.復(fù)相關(guān)系數(shù)
D.回歸方程的截距
E.回歸方程的斜率
您可能感興趣的試卷
- 2017年度全國(guó)統(tǒng)計(jì)專業(yè)技術(shù)初級(jí)資格考試統(tǒng)計(jì)學(xué)和統(tǒng)計(jì)法基礎(chǔ)知識(shí)試卷
- 2016年度全國(guó)統(tǒng)計(jì)專業(yè)技術(shù)初級(jí)資格考試統(tǒng)計(jì)學(xué)和統(tǒng)計(jì)法基礎(chǔ)知識(shí)試卷
- 2015年度全國(guó)統(tǒng)計(jì)專業(yè)技術(shù)初級(jí)資格考試統(tǒng)計(jì)學(xué)和統(tǒng)計(jì)法基礎(chǔ)知識(shí)試卷
- 2019年度全國(guó)統(tǒng)計(jì)專業(yè)技術(shù)初級(jí)資格考試《統(tǒng)計(jì)學(xué)和統(tǒng)計(jì)法基礎(chǔ)知識(shí)》真題及答案
- 2020年度全國(guó)統(tǒng)計(jì)專業(yè)技術(shù)初級(jí)資格考試《統(tǒng)計(jì)學(xué)和統(tǒng)計(jì)法基礎(chǔ)知識(shí)》真題及答案
- 初級(jí)統(tǒng)計(jì)師模擬試題(三)
- 初級(jí)統(tǒng)計(jì)師模擬試題(一)
你可能感興趣的試題
A.提出假設(shè)H0:μ≤100;H1:μ>100
B.提出假設(shè)H0:μ≥100;H1:μ<100
C.檢驗(yàn)統(tǒng)計(jì)量及所服從的概率分布為
D.如果Z>Zα,則稱與μ0的差異是顯著的,這時(shí)拒絕H0
E.檢驗(yàn)結(jié)果認(rèn)為該類型的電子元件的使用壽命確實(shí)有顯著提高
小樣本情況下,總體均值檢驗(yàn)的統(tǒng)計(jì)量可能為()。
A.A
B.B
C.C
D.D
E.E
A.(-∞,-z0.10)和(z0.10,+∞)為原假設(shè)的拒絕區(qū)域
B.(-∞,-z0.05)和(z0.05,+∞)為原假設(shè)的拒絕區(qū)域
C.(-∞,-t0.10)和(t0.10,+∞)為原假設(shè)的拒絕區(qū)域
D.(-∞,-t0.05)和(t0.05,+∞)為原假設(shè)的拒絕區(qū)域
E.若檢驗(yàn)統(tǒng)計(jì)量的絕對(duì)值越大,則原假設(shè)越容易被拒絕
A.實(shí)測(cè)顯著性水平P值<顯著性水平α
B.P值>α
C.Z<Z0
D.Z>Z0
E.Z>Zα/2
A.在顯著性α水平下,檢驗(yàn)假設(shè)H0:μ=μ0;H1:μ≠μ0的假設(shè)檢驗(yàn),稱為雙側(cè)假設(shè)檢驗(yàn)
B.右側(cè)檢驗(yàn)和左側(cè)檢驗(yàn)統(tǒng)稱為單側(cè)檢驗(yàn)
C.在顯著性α水平下,檢驗(yàn)假設(shè)H0:μ≥μ0;H1:μ<μ0的假設(shè)檢驗(yàn),稱為左側(cè)檢驗(yàn)
D.在顯著性α水平下,檢驗(yàn)假設(shè)H0:μ≥μ0;H1:μ<μ0的假設(shè)檢驗(yàn),稱為右側(cè)檢驗(yàn)
E.在顯著性α水平下,檢驗(yàn)假設(shè)H0:μ≤μ0;H1:μ>μ0的假設(shè)檢驗(yàn),稱為右側(cè)檢驗(yàn)
最新試題
需求法則表明,需求量大小與商品價(jià)格高低呈正相關(guān)關(guān)系。()
相關(guān)分析側(cè)重于考察變量之間相關(guān)關(guān)系的密切程度,回歸分析則側(cè)重于考察變量之間數(shù)值變化規(guī)律。()
第二手?jǐn)?shù)據(jù)可以通過(guò)抽樣調(diào)查獲得。()
重點(diǎn)單位的選擇帶有主觀因素。()
抽樣調(diào)查和重點(diǎn)調(diào)查的主要區(qū)別是選取調(diào)查單位的方式不同。()
相關(guān)關(guān)系即為函數(shù)關(guān)系。()
我國(guó)的人口普查每十年進(jìn)行一次,因此它是一種經(jīng)常性調(diào)查方法。()
全面調(diào)查和非全面調(diào)查是根據(jù)調(diào)查結(jié)果所得到的資料是否全面來(lái)劃分的。()
總成本指數(shù)為()。
描述統(tǒng)計(jì)是研究如何利用樣本數(shù)據(jù)來(lái)獲得總體特征的統(tǒng)計(jì)學(xué)方法。()