根據(jù)衍襯運動學原理，理想晶體衍射強度隨（）而變化。

利用電子探針對材料微區(qū)成分進行面分析，包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。

孔徑半角越小，衍射效應(yīng)所決定的電磁透鏡的分辨率越高。

熱分析技術(shù)中，試樣用量越多，熱效應(yīng)大，內(nèi)部傳熱慢，溫度梯度大，導致峰形擴大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。

（）需要試樣與參比物之間溫度始終保持相同。

熱分析中對樣品的重量沒有要求，只要樣品尺寸能放進坩堝內(nèi)，就可以獲得良好的測試結(jié)果。

晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。

掃描隧道顯微鏡能用于觀察導體、半導體和絕緣體材料的表面結(jié)構(gòu)。

粉末多晶樣品中，不同晶面指數(shù)的倒易點分布在（）半徑的倒易球上。

X射線衍射儀中，通常用于測定2θ范圍不大的一段衍射圖，常用于精確測定衍射峰的積分強度和位置的掃描方式為（）。